王月明（讲师）

»姓名：王月明

»系属：电工电子学教学中心

»学位：工学博士

»职称：讲师

»专业：微纳光学检测

»导师类别：无

»电子邮箱：upc_wym@upc.edu.cn

»联系电话：17806281729

»通讯地址：山东省青岛市黄岛区长江西路66号

»概况

◎研究方向

主要研究微纳光学计算测量、偏振光成像、高温超导体物性研究、智能光电传感技术

◎教育经历

2020.09-2025.06，山东大学，光学工程，博士（硕博连读）

2016.09-2020.06，山东大学，电子科学与技术，学士

◎工作经历

2025年9月至今，BB贝博艾弗森，BB贝博艾弗森

◎学术兼职

中国光学学会会员

担任《Optics Letters》《Applied Physics Letters》《APL Materials》《Journal of Alloys and Compounds》《Optical Materials》等期刊审稿人

◎主讲课程

◎指导研究生及博士后

◎承担项目

[1]《高通量超导组合薄膜的成像椭圆偏振光谱研究》,主持。

[2]《高通量组合界面制备及其电子结构调控》，参与。

[3]《磁性纳米薄膜磁畴成像理论及关键技术研究》，参与。

[4]《Mg_1-xLi_xTi₂O₄纳米薄膜介电响应机制的研究》，参与。

◎获奖情况

◎荣誉称号

◎著作

◎论文

[1] Wang Y, Sun W, Zhao M, et al. In-plane and out-of-plane anisotropy in the optical and dielectric properties of YBa₂Cu₃O_7-x superconducting film, Applied Surface Science 673 (2024) 160896.

[2] Wang Y, Wei M, Li Y, et al. Study of composition-modulated interband transitions characteristic and charge dynamics response of high-throughput FeSe_1-xTe_x combinatorial film, Journal of Alloys and Compounds 1003 (2024) 175559.

[3] Wang Y, Li Y, Wei M, et al. Composition-dependent optical, dielectric and d-orbital electron characteristic of high-throughput horizontal composition gradient Li_1-xMg_xTi₂O₄ combinatorial film, Journal of Alloys and Compounds 987 (2024) 174192.

[4] Wang Y, Wei M, Han Y, Lian J. Study of in-plane optical anisotropy of two-dimensional ReS₂ and ReSe₂ based on imaging spectroscopic ellipsometry, Vacuum 233 (2025) 114026.

[5] Wang Y, Lian J, Wei M, et al. Optical property and pseudogap study of FeSe thin films on different substrates, Optical Materials 131 (2022) 112727.

[6] Wang Y, Lian J, Wei M, et al.Optical properties study of high-throughput horizontal composition gradient FeSe_1-xTe_x thin film based on ellipsometry, Thin Solid Films 770 (2023) 139785.

[7] Wang C, Wang Y, Gao Y, et al. Unraveling Tunable Optical Anisotropy in Colloidal Quantum Wells Using Mueller Matrix Ellipsometry, Journal of Physical Chemistry Letters 16 (2025) 100994.

◎专利

[1] 基于椭圆偏振成像的光纤折射率测量装置、方法及应用。

[2] 一种用于光纤折射率的微区椭偏测试的样品台。